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      通過(guò)序列和非序列追跡進(jìn)行系統分析
      時(shí)間:2018-05-24 09:32來(lái)源:訊技光電作者: 技術(shù)部點(diǎn)擊:次打印
      1. 摘要

      VirtualLab可以通過(guò)對光學(xué)系統僅一次建模而使用不同的追跡技術(shù)對其進(jìn)行分析。這包括光線(xiàn)追蹤以與場(chǎng)追蹤。 通過(guò)VirtualLab的非序列擴展,可以輕松地在序列和非序列之間對光學(xué)系統進(jìn)行分析。本例演示了如何對您的系統執行非順序分析。 作為范例,我們將使用一個(gè)平板,其第二個(gè)表面微傾。

      2. 建模任務(wù)

      在這個(gè)用例中,我們將說(shuō)明用戶(hù)如何輕松切換序列和非序列系統分析。
      為了演示目的,我們使用平面波來(lái)照射平板。
      我們對平板反射的光線(xiàn)感興趣。
      組件由兩個(gè)平面接口組成,其中第二個(gè)面傾斜0.1°


       
      3. 示例系統
       
      通過(guò)系統配置文件指定系統參數。

       
      4. 非序列追跡的選擇
       
      在光學(xué)系統屬性窗口中,你可以選擇執行序列追跡或者非序列追跡。
      該屬性選項會(huì )作用在以下引擎:
      - 光線(xiàn)追跡
      - 光線(xiàn)追跡系統分析器
      - 第二代場(chǎng)追跡

       
      5. 序列光線(xiàn)追跡結果

      通過(guò)執行光線(xiàn)追跡系統分析器,可以顯示一個(gè)3D光線(xiàn)分布。
      在序列光線(xiàn)追蹤的情況下,只評估第一個(gè)表面的反射光。

       
      6. 序列場(chǎng)追跡結果
       
      使用相機探測器作為系統探測器。
      其可以計算探測器平面的能量強度分布
      使用序列場(chǎng)追跡,一個(gè)平面波照射探測器,并以設定的色域顯示。

       
      7. 選擇非序列追跡

      可以通過(guò)在屬性窗口中更改屬性Non-Sequential Tracing來(lái)激活非序列分析。
      如果選擇此選項,VirtualLab將提供多個(gè)選項來(lái)控制非序列追跡技術(shù)。
      這些選項在另一個(gè)案例中介紹。

       
      8. 非序列光線(xiàn)追跡結果
       
      左側的屏幕截圖顯示了光線(xiàn)追跡3D分析器的結果。
      圖中可見(jiàn),光線(xiàn)追跡引擎對第一平面和第二平面之間的內部反射進(jìn)行了計算操作。

       
       
      9. 非序列場(chǎng)追跡結果

      相機探測器現在由兩個(gè)平面波照明。
      強度分布圖顯示了這些模式的干涉圖案。
      這種干涉圖案是由第二個(gè)表面相對于第一個(gè)表面的小傾斜造成的。


       
       
      10. 文件和技術(shù)信息

       
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