用阿貝判據研究顯微系統的分辨率

摘要
 

顯微系統的分辨率一般用阿貝判據進(jìn)行表征。這也解釋了物鏡的數值孔徑(NA)決定了光柵(作為樣本)衍射階在其后焦平面上的濾波。當高衍射級次的衍射被濾除后，像面不會(huì )發(fā)生干涉，因此不會(huì )成像。本實(shí)例演示了數值孔徑NA對濾波效果和分辨率的影響。


 

1. 案例

  

在VirtualLab Fusion中構建系統
 

1. 系統構建模塊

 

2. 組件連接器

 

 

幾何光學(xué)仿真
 

以光線(xiàn)追跡
 

1. 結果：光線(xiàn)追跡

 

 

快速物理光學(xué)仿真
 

以場(chǎng)追跡
 

1. NA=1.4時(shí)的光柵成像 

 

2. NA=0.75時(shí)的光柵成像 

  

 

3. NA=0.5時(shí)的光柵成像 

  

 

文件信息

 

了解更多
-       Debye-Wolf Integral Calculator
-       Analyzing High-NA Objective Lens
-       Resolution Investigation for Microscope Objective Lenses by RayleighCriterion