摘要
受激發(fā)射損耗(STED)顯微鏡描述了一種常用的技術(shù)，以實(shí)現在生物應用的超分辨率。在這種方法中，兩束激光—一束正常，一束轉變成甜甜圈模式—被疊加到熒光樣品上。通過(guò)使用熒光過(guò)程的發(fā)射和損耗以及利用由此產(chǎn)生的飽和效應，與通常的顯微鏡技術(shù)(例如，寬視場(chǎng)顯微鏡)相比，后反射光顯示出更高的分辨率。在本文檔中，介紹了這種設備的基本設置。為了模擬飽和效應，在焦點(diǎn)區域采用等效孔徑。
任務(wù)說(shuō)明
多重光源
螺旋相位板
探測器插件
參數運行
為了實(shí)現焦點(diǎn)區域的z-掃描，可以執行參數運行。使用此工具，用戶(hù)可以輕松改變整個(gè)光學(xué)系統的單個(gè)參數或一組參數。有關(guān)詳細信息，請參閱：
Usage of the Parameter Run Document
非時(shí)序建模
將通道配置模式切換設置為Manual Configuration后，用戶(hù)可以為系統中的每個(gè)表面指定為模擬打開(kāi)哪些通道。運行模擬時(shí)，將對活動(dòng)光路進(jìn)行初步分析（通過(guò)所謂的Light Path Finder）。然后引擎將沿著(zhù)這些光路將場(chǎng)追蹤到系統中存在的探測器。
Channel Setting for Non-Sequential Tracing
總結 – 組件…
系統觀(guān)感
發(fā)射&損耗激光
光在焦點(diǎn)區域中的傳播表明，來(lái)自損耗激光的光會(huì )產(chǎn)生環(huán)形光斑，其中中心孔徑小于發(fā)射激光的焦斑。由于兩個(gè)光束在目標上的熒光過(guò)程中競爭，這導致信號激光的有效光束尺寸更小。
3D STED 輪廓
注意：由于這個(gè)簡(jiǎn)化的例子不包括實(shí)際的熒光效應，我們?yōu)榱丝梢暬康膶蓚�(gè)激光束進(jìn)行了歸一化。
受激發(fā)射損耗效應
為了近似飽和損耗的影響，我們在焦點(diǎn)位置對發(fā)射激光的結果應用了孔徑效應�？讖降膮荡笾禄趽p耗激光的焦點(diǎn)輪廓（600nm 直徑，25% 邊緣）。通過(guò)系統傳播回探測器平面表明，由于這個(gè)過(guò)程，光斑變得非常小。
VirtualLab Fusion 技術(shù)
文件信息
進(jìn)一步閱讀
• Simulation of Multiple Light Source in VLF
• Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy
市場(chǎng)圖片
|
