邊緣衍射

當孔徑尺寸和波長(cháng)比相對較小的時(shí)候(104 或者更小)，場(chǎng)外光源經(jīng)孔徑光闌發(fā)生的邊緣衍射可能是雜散光的一個(gè)重要來(lái)源。

紅外系統中的自輻射

熱紅外或者熱成像系統中也可以出現雜散光，該雜散光是由設備自身的熱輻射引起的。 這類(lèi)系統通過(guò)檢測疊加在一個(gè)大背景上的一個(gè)小的信號來(lái)運轉。 室溫情況下，黑體發(fā)射率曲線(xiàn)的峰值在大概10um處. 因而在這種波長(cháng)下，環(huán)境也會(huì )"發(fā)光".隨著(zhù)溫度或者發(fā)射率的變化，黑體發(fā)射曲線(xiàn)在發(fā)熱過(guò)程中會(huì )有很小的變化。 熱成像系統一般通過(guò)減去背景來(lái)增強紅外圖像的對比度。當背景不均勻，比如說(shuō)有水仙花效應, 就產(chǎn)生了一個(gè)雜散光信號。 特別是， 當冷卻了的探測器的一個(gè)圖像在其自身成像的時(shí)候，背景的局部嚴重缺損就產(chǎn)生了。典型的表現為在圖像的中心形成黑斑。人們可能稱(chēng)它為“雜斑”而不是雜散光。

紅外輻射計測量絕對輻射而不是一個(gè)相對輻射，所以任何背景輻射都是不可接受的。 在這樣一個(gè)設備中，冷卻整個(gè)設備來(lái)降低溫度以消除因為自身散射引起的雜散光是必要的。

圖4—該圖演示這樣一個(gè)簡(jiǎn)單的問(wèn)題，一個(gè)溫熱的茶壺，其表面有著(zhù)不同的發(fā)射率和溫度分布。茶壺通過(guò)一個(gè)單透鏡成像，探測器放置在透鏡后面（看不見(jiàn)）。許多紅外系統中都發(fā)現機械結構自身輻射到探測器的問(wèn)題。而解決的方法不是移除自輻射源就是對這些輻射加以遮擋。

以上幾種現象的組合

以上現象的組合也會(huì )發(fā)生，并且可能很重要。 比如， 自輻射光線(xiàn)可能繼而從光學(xué)器件上散射進(jìn)入視場(chǎng)里面。由孔徑衍射的光線(xiàn)也可能從光學(xué)器件上面散射進(jìn)入視場(chǎng)內。

2．FRED 怎樣呈現散射光？

有幾種方法可以跟蹤散射光。第一種方法是制造一個(gè)光源，再追跡通過(guò)光學(xué)系統的光線(xiàn)。第二種方法是通過(guò)系統從探測器的進(jìn)行反向光線(xiàn)追跡。能夠通過(guò)使用任何3D光線(xiàn)追跡軟件程序來(lái)顯示雜散光光路是相當重要的。光學(xué)工程師利用FRED的軟件來(lái)顯示雜散光發(fā)生的位置。反射光線(xiàn)以及折射光線(xiàn)僅僅是問(wèn)題的一部分，散射光也是一個(gè)問(wèn)題。

3、FRED怎樣產(chǎn)生幾何界面？

系統的幾何結構可以直接在FRED 中通過(guò)運用簡(jiǎn)單圖形界面來(lái)生成。也可以輸入由機械軟件設計的IGES 或者STEP 格式文件，和光學(xué)設計程序設計的文件，或者從ASAP 輸出文檔中轉換過(guò)來(lái)。FRED程序有許多選項用于生成表面，包括標準平面，二次曲線(xiàn)，柱面，橢圓體， 雙曲線(xiàn)，環(huán)形，多項式曲面，澤尼克，非均勻有理B樣條， 網(wǎng)狀，旋轉曲線(xiàn)，壓邊曲線(xiàn)，復合曲線(xiàn)，凹線(xiàn)和用戶(hù)自定義表面。圖1和圖2中所示的為FRED繪制的那些表面之一。

因為FRED 有一個(gè)多文檔用戶(hù)界面，所以可以在文檔間進(jìn)行元件的相互剪切，復制以及粘貼。 實(shí)體在理論上可能被設置為各層組裝體，組件和元件等等。它符合系統的物理層結構；任何一個(gè)物體都可以在任意的坐標系統中定義。 任何表面都可能被任何隱式曲面或者任何孔徑收集曲線(xiàn)所整理（切開(kāi)），以下是詳細說(shuō)明。

4 、FRED 怎樣追蹤光路？

FRED 有能力去完成一次高級的光線(xiàn)追跡。 這種光線(xiàn)追跡可以清晰地追蹤系統中所有光線(xiàn)的所有路徑。 圖5顯示了在圖1中的兩個(gè)雙膠合透鏡的光線(xiàn)路徑的列表。 光線(xiàn)歷史報表是一個(gè)對所有光線(xiàn)的完整報告，記載了有多少光線(xiàn)以這條光路發(fā)射，他們怎樣到達最終的實(shí)體（在這個(gè)事例中是焦平面）以及他們穿過(guò)了多少表面（事件計數）。 也可以取任一條光線(xiàn)追跡的光路然后將其復制到用戶(hù)定義光路列表 (選擇光路， 將鼠標移至光路然后選擇一個(gè)選項將這條光路復制到用戶(hù)定義光路列表)。 這條光路將立刻在高級光線(xiàn)追跡中呈現一個(gè)可選光路作為一個(gè)可用的光線(xiàn)追跡方法。還可以?xún)H對這條光線(xiàn)繪制彌散斑圖或點(diǎn)擴散函數圖。