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    訊技光電公司首頁
    最新公告：2025年訊技課程安排發布啦！
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      光學干涉測量系統的物理光學仿真
      		

    
      
  
      
    時間:2019-01-17 22:19來源:訊技光電作者: 技術部點擊:次打印
    
      
  
      
    
      
	LightTrans 講座
      
	 
      

      
	SPIE Photonics West 2019 大會
      
	 
      

      
	光學干涉測量系統的物理光學仿真
      
	 
      

      
	SPIE OPTO – 第一場： 光子儀器的設計、改進及制造
      
	 
      

      
	時間：2019年2月5日│ 14:20 ─ 14:40
      
	 
      

      
	Site Zhang, Rui Shi, Christian Hellmann, and Frank Wyrowski
      
	 
      

      
	基于干涉儀的現代光學測量技術在諸多領域發揮著重要的作用，并往往包含多種類型元件。而改善系統性能或豐富系統功能的新方法，通常會產生系統分析和組裝的問題。為解決這一問題，我們提出一種基于物理光學的仿真途徑。該方法從光源的電磁表征出發，可以進行相干和偏振的模擬。我們演示了如何在選定的經典干涉測量裝置中集成新組件（從顯微鏡物鏡到衍射、微納米結構），并測量所得系統是否滿足功能需求。
      

      
	 
      

      
	
      

      
	了解更多信息，請發送郵件至：support@infotek.com.cn / support@infocrops.com
      

      
	網址：http://m.afronuru.com / http://www.honglun-seminary.com
      

      
	 
      
      		
    
      

       
      

      		

        
      

          
      

            

		
      

			
        
            
			
      

		
      		

          
      

        
      		

  
      

      

      

      

      
  
      
    
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    課程：course@infotek.com.cn
      
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