邀請您參加OptiSystem研討會：革命性的PIC系統表征和機器學習工具

參加Optiwave的介紹性網絡研討會，了解OptiSystem 22.1版本中發布的新組件和功能。兩個新的組件已經添加到OptiSystem軟件中，用于仿真光子集成電路（PIC）系統的特性，并且添加了機器學習工具，促進光通信系統管理的另一個維度。

你會發現什么？

• 兩個新組件通過將測量的s參數文件加載到組件中來實現PIC系統仿真功能。

• 用戶可以使用機器學習工具管理光通信系統。

• 改進的空間解復用器組件可以單獨監測每種模式產生的放大自發發射（ASE）。

• VCSEL激光器組件的啁啾已被調整為允許正值和負值，從而能夠準確模擬光在不同零色散波長的多模光纖中的傳播。

為什么要參加這個網絡研討會？

• 見證Optiwave工具中光子集成電路系統表征和仿真的啟動。

• 從系統級仿真和PIC設計專家那里獲得見解。

• 參與Optiwave專家的現場問答環節。

日期&時間

2025年5月15日，北京時間22：00

注冊鏈接：https://us06web.zoom.us/webinar/register/WN_jac5Pu-mTEa1EDHSIHN0XA