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      方位錨定能測量裝置

      方位錨定能測量裝置
      時(shí)間:2021-05-31 09:56來(lái)源:訊技光電作者: 技術(shù)部點(diǎn)擊:次打印
      方位錨定能測量裝置對于取向材料的研發(fā)是必不可少的,它可以在單個(gè)扭曲向列相液晶盒中高效、精確地控制取向層的方位和極向錨定能。
       
      該裝置可進(jìn)行扭曲向列相液晶盒中液晶扭曲角的自動(dòng)測量及其方位錨定能的計算[V. A. Konovalov, A. A. Muravski, S. Ye.Yakovenko, J. Pelzl, An Accurate Spectral Method for Measuring Twist Angle of Twisted Cells with Rubbed and Grooved Surfaces, SID Symp. Dig. Tech. Pap. 31, 1, pp. 620-623 (2000)]。

      主要技術(shù)特點(diǎn)




      方位錨定能的自動(dòng)測量
       
      方位錨定能測量裝置軟件會(huì )自動(dòng)執行一系列的計算機操作,包括液晶盒和光譜測量?jì)x的樣品臺旋轉以及分析儀和光譜測量?jì)x的旋轉。所有測量均在液晶樣品的選定區域內自動(dòng)進(jìn)行,無(wú)需人工干預。自動(dòng)數據采集及其對液晶盒旋轉模型的計算機分析提供了液晶扭曲角φt的測定,并計算了方位錨定能常數Aφ。
       
      測量參數*

       
      *通過(guò)基于帶電氣控制的偏光顯微鏡MICRO-200Т-01(選項1)和高速光學(xué)輪廓儀(選項2)的方位錨定能測量裝置實(shí)現。
       
      選項1 –電氣控制
      極向錨定能的測量
      方法A:反射與電壓(電光方式)
      在扭曲向列相液晶盒中,在各種施加電壓下的預傾角測量用于確定極向錨定 [A. Murauski, V. Chigrinov, H-S. Kwok, New method for measuring polar anchoring energy of nematic liquid crystals, Liq. Cryst. 36 (8), 779-786 (2009)]。
       
      方法B:延遲與電壓(電光方式)
      將VA 液晶盒中各種施加電壓下的相位延遲測量用于極向錨定測定[X. Nie, Y.H. Lin, T.X. Wu, H.Wang, Z.Ge, S.T. Wu, Polar anchoring energy measurement of vertically aligned liquid-crystal cells, J. Appl. Phys. 98, 013516 (2005)]。
       
      方法C:電容與電壓(電氣方式)
      在ECB和VA 液晶盒中,在各種施加電壓下的同時(shí)測量電容,用于極向錨定測定[A. Murauski, V. Chigrinov, A.Murasky, F.S.-Y. Yeung, J. Ho, H-S. Kwok, Determination of liquid-crystal polar anchoring energy by electrical measurements, Phys. Rev. E 71, 061707 (2005)]. Polar anchoring coefficient can be defined without using the LC materials parameters (elastic and dielectric constants)。
       
      額外的電氣特性



      選項2 –高速光學(xué)輪廓儀
       
      基于在透射或反射模式下的平行多通道干涉光譜測量,可以使用自動(dòng)測量裝置,用于在玻璃或硅基板上厚度范圍從10 nm到20+μm的薄膜涂層的微米,亞微米和納米級厚度測量,加快數據分析和表面輪廓處理。
      非常適合液晶透鏡,液晶透鏡陣列等的相位分布分析。
       
      光學(xué)輪廓儀的附加特性


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